PROGRAM SZKOŁY SPM (pdf-->kliknij aby otworzyć)
Ze względu na liczne prośby skierowane do Organizatorów, w dniu 30 listopada 2016 (środa) po południu odbędą się wykłady IV Szkoły SPM (mikroskopii bliskich oddziaływań).Jej program przewiduje prezentację cyklu 4 wykładów z podstaw technik oraz zastosowań skaningowej mikroskopii próbkującej, wśród nich:
• Skaningowa mikroskopia i spektroskopia tunelowa (STM, STS)
• Mikroskopia sił atomowych (AFM, nc-AFM, LFM, MFM)
• Mikroskopia SPM w ultrawysokiej próżni
• Zastosowania powietrznej mikroskopii AFM
Wykładowcami będą uznani specjaliści:
• prof. dr hab. Arkadiusz Ptak (Politechnika Poznańska)
• dr hab. Bartosz Such (Instytut Fizyki Uniwersytet Jagielloński)
• dr hab. Małgorzata Lekka (IFJ PAN Kraków)
• dr Jakub Prauzner-Bechcicki (Instytut FizykiUniwersytetu Jagiellońskiego)
Zapraszamy do uczestnictwa w Szkole studentów, doktorantów oraz wszystkich zainteresowanych poznaniem podstaw technik SPM.
Dla uczestników IV Szkoły SPM oraz IX Seminarium STM/AFM 2016 będą możliwe indywidualne prezentacje sprzętu oraz demonstracje z możliwością pomiarów na dostarczonych próbkach na aparaturze udostępnianej na towarzyszącej Seminarium wystawie aparatury naukowej.
Opłata za uczestnictwo w Szkole: 400 zł.